DAKOM 2010

Begrüßung Prof. Dr. Theo Tschudi, TU Darmstadt André Noack, Optence e.V.
Asphärenmessung Dr. B. Braunecker, Braunecker Engineering, Rebstein, Schweiz
Wirtschaftliche Bedeutung von Asphären Dr. Winfried Arens, Leica Camera AG
Pecision Glass Moulding of Optical Elements Dr. Carl Gaebe, GD Optical Competence GmbH
Asphärenmessgerät Dr. Aiko Ruprecht, Trioptics GmbH
Mehrwellenlängen-Interferometrie zur Aspärenmessung Dr. Jürgen Petter, Dr. Ralf Nicolaus, Luphos GmbH
Streulichtmessung an Oberflächen Prof. Dr. T. Tschudi, Dr.-Ing. G. Jakob
Vermessung optischer Komponenten Michael Geier, Lothar Völker, Jos. Schneider Optische Werke GmbH
Adapitive Spektralanalyse in der Oberflächenmesstechnik Dr. Karl Koch (ehemals IAP der TU Darmstadt)
Shack-Hartmann Sensor im Vergleich zu interferometrischen Methoden Dr. Mathias Beyerlein, Optocraft GmbH
Konfokale Messverfahren Dr. Wiora, NanoFocus AG