Das Darmstädter Kolloqium für optische Messtechnik (DAKOM) greift in diesem Jahr das Thema „Asphären und die Charakterisierung optischer Oberflächen“ auf.

Die Mehrzahl optischer Systeme bestehen heute immer noch aus sphärischen Komponenten, da ihre Fertigungsverfahren bekannt und weitgehend beherrschbar sind. Steigende Anforderungen an die Qualität der optischen Abbildung, eine bessere Korrektur von Abbildungsfehlern bei gleichzeitig reduziertem  Bauvolumen erfordern mehr und mehr asphärische Komponenten. Die Beherrschung der Herstellung von Linsen asphärischer Symmetrie erschließt neue Anwendungsbereiche, wie beispielsweise Optiken für Handy-Kameras.  Bedeutendes Hindernis für den Einsatz von Asphären ist allerdings deren aufwändige und schwierige Herstellung und die präzise Prüfung. Die schnelle flexible Vermessung von asphärischen Präzisionsoberflächen im Fertigungsprozess ist nach wie vor ein ungelöstes Problem.

Die verschiedenen Charakterisierungsmethoden für optische Oberflächen, insbesondere äsphärischer, bilden deshalb den Schwerpunkt der Veranstaltung. Die Referenten, die wir für die Veranstaltung ausgewählt haben, besitzen große Expertise auf dem Gebiet der Herstellung und der Vermessung asphärischer Oberflächen.

Die technisch-wissenschaftliche Leitung des Kolloqiums hat Prof. Dr. Theo Tschudi vom Institut für Angewandte Physik der TU Darmstadt.

Anfahrt

Flyer zur Veranstaltung:

http://www.optence.de/veranstaltungen/datein-zu-veranstaltungen/events/flyer-optence-veranstaltungen/flyer_dakom_2010_lr_neu.pdf

09:00  Anmeldung

09:30  Begrüßung

            Prof. Dr. Theo Tschudi, TU Darmstadt

            André Noack, Optence e.V.

09:45  Asphärenmessung

Dr. B. Braunecker, Braunecker Engineering, Rebstein, Schweiz

Ehemals Leiter Optikentwicklung bei Leica Heerbrugg

10:15  Wirtschaftliche Bedeutung von Asphären

Dr. Winfried Arens, Leica Camera AG

10:45  Pecision Glass Moulding of Optical Elements

Dr. Carl Gaebe,

GD Optical Competence GmbH

11:15   Kaffeepause

11:35  Asphärenmessgerät

Dr. Stefan Krey, Trioptics GmbH

12:05  Mehrwellenlängen-Interferometrie zur Aspärenmessung

Dr. Jürgen Petter, Dr. Ralf Nicolaus, Luphos GmbH

12:35 Mittagspause

14:00  Chromatischer Weisslichtsensor

Dr. Thomas Fries, Fries Research & Technology GmbH

14:30  Streulichtmessung an Oberflächen

Prof. Dr. T. Tschudi, Dr.-Ing. G. Jakob

15:00  Vermessung optischer Komponenten

Michael Geier, Lothar Völker,

Jos. Schneider Optische Werke GmbH

15:30 Kaffeepause

15:50 Adapitive Spektralanalyse in der Oberflächenmesstechnik

             Dr. Karl Koch (ehemals IAP der TU Darmstadt)

16:20  Shack-Hartmann Sensor im Vergleich zu interferometrischen Methoden

Dr. Mathias Beyerlein, Optocraft GmbH

Ende 16:50 Uhr

Veranstaltungsort

TU Darmstadt

Gebäude der Kernphysik S14

Hörsaal 024

Schlossgartenstrasse 9

64289 Darmstadt